EBL: Efficient background learning for x-ray security inspection

Autor: Wei Wang, Linyang He, Yiqing Li, Kai Zhou, Linchao Li, Guohua Cheng, Ting Wen
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: Applied Intelligence. 53:11357-11372
ISSN: 1573-7497
0924-669X
DOI: 10.1007/s10489-022-04075-1
Databáze: OpenAIRE
Externí odkaz: