Small Scale Creep Testing of 14YWT via In-situ Transmission Electron Microscopy Irradiation and Nanoindentation

Autor:	D. Frazer, R. J. Parrish, K. Hattar, T. A. Saleh, S. A. Maloy, J. T. White
Rok vydání:	2023
Předmět:	General Engineering General Materials Science
Zdroj:	JOM.
ISSN:	1543-1851 1047-4838
DOI:	10.1007/s11837-023-05752-3
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::11155e8f3586817a8b7960c00723d6b5 https://doi.org/10.1007/s11837-023-05752-3 Zobrazit plný text záznamu Full text from SpringerLink