Determining the Zero-Temperature-Coefficient Point From Device Simulation to Circuit for Improving Temperature Variation Immunity

Autor: Wangyong Chen, Mingyue Zheng, Yaoyang Lyu, Linlin Cai
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: IEEE Transactions on Electron Devices. 70:864-870
ISSN: 1557-9646
0018-9383
Databáze: OpenAIRE