HMX crystal topography investigated by means of atomic force microscopy and confocal microscopy

Autor:	Herrmann, Michael, Weyrauch, Hubert
Rok vydání:	2019
DOI:	10.24406/publica-fhg-405505
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0f3a6c935dbde63fed171fd2cc191980 Zobrazit plný text záznamu