X-Ray Diffraction in Interferometric Systems Consisting of Crystalline Blocks of Different Thickness

Autor: P. A. Bezirganyan, K. G. Truni, L. G. Gasparyan, V. P. Mkrtchyan
Rok vydání: 1987
Předmět:
Zdroj: Physica Status Solidi (a). 104:549-567
ISSN: 1521-396X
0031-8965
DOI: 10.1002/pssa.2211040206
Popis: The X-ray diffraction in interferometric systems consisting of mirror block parts having different thicknesses is investigated. By means of these systems, V-shaped interference patterns are obtained and they are shown to be due to rotations of reflecting planes when the mirror system has different thickness parts. With the change in sign of this difference or in the sense of reflecting plane rotations, the V-shaped fringes are inverted. Die Rontgenbeugung in interferrometrischen Systemen aus Spiegelblockteilen mit verschiedener Dicke wird untersucht. Mit diesen Systemen werden V-formige Interferenzmuster erhalten und es wird gezeigt, das sie durch Rotation der reflektierenden Ebenen hervorgerufen werden, wenn das Spiegelsystem Teile mit verschiedener Dicke hat. Mit der Anderung des Vorzeichens dieser Differenz oder im Rotationssinn der reflektierenden Ebenen werden die V-formigen Streifen invertiert.
Databáze: OpenAIRE
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