The Distinctive Features of Testing Microcircuits for Electrical Devices
Autor: | Ye. F. Korneyev, A. M. Tsyrlov |
---|---|
Rok vydání: | 2005 |
Předmět: | |
Zdroj: | Telecommunications and Radio Engineering. 63:561-567 |
ISSN: | 0040-2508 |
DOI: | 10.1615/telecomradeng.v63.i6.130 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |