The Distinctive Features of Testing Microcircuits for Electrical Devices

Autor: Ye. F. Korneyev, A. M. Tsyrlov
Rok vydání: 2005
Předmět:
Zdroj: Telecommunications and Radio Engineering. 63:561-567
ISSN: 0040-2508
DOI: 10.1615/telecomradeng.v63.i6.130
Databáze: OpenAIRE