An Advanced Technique for High Temperature X-Ray Elastic Constant and Stress Investigations

Autor:	Chun Liu, Jean-Lou Lebrun, François Sibieude
Rok vydání:	1993
Zdroj:	Advances in X-Ray Analysis ISBN: 9781461362937
DOI:	10.1007/978-1-4615-2972-9_47
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0ddda65e24daaa59ff2f43c1b437384d https://doi.org/10.1007/978-1-4615-2972-9_47 Zobrazit plný text záznamu