Low-IR-Drop Test Pattern Regeneration Using A Fast Predictor

Autor:	Shi-Tang Liu, Jia-Xian Chen, Yu-Tsung Wu, Chao-Ho Hsieh, Chien-Mo Li, Norman Chang, Ying-Shiun Li, Wen-Tze Chuang
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 23rd International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED).
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0dc3fdc006fd2168408043b0a0642293 https://doi.org/10.1109/isqed54688.2022.9806245 Zobrazit plný text záznamu