Gate resistance thermometry: An electrical thermal characterization technique

Autor:	Georges Pavlidis, Brian Foley, Samuel Graham
Rok vydání:	2022
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0dbd535a9e088d6f86435b970dbc6959 https://doi.org/10.1016/b978-0-12-821084-0.00018-4 Zobrazit plný text záznamu