Atomic force microscopy of InGaN-based structures grown by metal-organic vapour phase epitaxy

Autor:	C Liu, C J Deatcher, M G Cheong, I M Watson
Rok vydání:	2018
Zdroj:	Microscopy of Semiconducting Materials 2003 ISBN: 9781351074636
DOI:	10.1201/9781351074636-149
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0ceac405b4c1ceb443386c911371fcd8 https://doi.org/10.1201/9781351074636-149 Zobrazit plný text záznamu