Timing-Aware ATPG
| Autor: | Kassab Mark, Nadeau-Dostie Benoit, Lin Xijiang |
|---|---|
| Rok vydání: | 2017 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits |
| DOI: | 10.1201/b15549-4 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|
| Autor: | Kassab Mark, Nadeau-Dostie Benoit, Lin Xijiang |
|---|---|
| Rok vydání: | 2017 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits |
| DOI: | 10.1201/b15549-4 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|