DETECTION OF INTERLAYER DEFECTS IN BIMETALLIC MATERIALS BY ELECTRIC FOUR-PROBE METHOD
| Autor: | P. N. Bondarenko, V. O. Belko, K. A. Kurkin, A. D. Lukyanchikov |
|---|---|
| Rok vydání: | 2018 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Explosive Production of New Materials: Science, Technology, Business, and Innovations |
| DOI: | 10.30826/epnm18-010 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|