Can Higher-Order Mutants Improve the Performance of Mutation-Based Fault Localization?

Autor:	Haifeng Wang, Zheng Li, Yong Liu, Xiang Chen, Doyle Paul, Yuxiaoyang Cai, Luxi Fan
Rok vydání:	2022
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Safety Risk Reliability and Quality
Zdroj:	IEEE Transactions on Reliability. 71:1157-1173
ISSN:	1558-1721 0018-9529
DOI:	10.1109/tr.2022.3162039
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0b57451810f8c945b4bc9314d556e3ff https://doi.org/10.1109/tr.2022.3162039 Zobrazit plný text záznamu