Study of impulse electric strength of modern chip capacitors
| Jazyk: | ruština |
|---|---|
| Rok vydání: | 2019 |
| Předmět: | |
| DOI: | 10.18720/spbpu/3/2019/vr/vr19-1257 |
| Popis: | В работе была исследована импульсная электрическая прочность (ИЭП) чип-конденсаторов на основе пленочного и керамического диэлектрика. Испытания проводились на коротких (длительность переднего фронта 100 нс, длительность импульса 2 мкс) и грозовых (длительность переднего фронта 1,2 мкс, время спада напряжения до 0,5 амплитудного 50 мкс) импульсах. Исследования показали, что ИЭП керамических конденсаторов практически не изменилась при переходе от коротких импульсов к грозовым, в то время как прочность пленочных конденсаторов оказалась более чем на 25% выше при испытаниях грозовыми импульсами. При анализе причин катастрофического отказа пленочных чип-конденсаторов и исследования пробоя тонких металлизированных пленок с добавлением парафина было подтверждено, что причиной катастрофического отказа пленочных чип-конденсаторов является межслоевое перекрытие в месте разреза заготовки при изготовлении пленочных чип-конденсаторов. This work presents the results of studying of impulse electric strength (IES) of Multilayer Chip Capacitors (MLCC) with polymer film and ceramic dielectric. The tests were carried out on short (the pulse rise time is 100 ns, pulse duration is 2 µs) and lightning (rise time is 1.2 µs, fall time of the voltage to 0.5 of the amplitude is 50 µs) pulses. Research has shown that IES of ceramic capacitors almost unchanged with switching from short pulses to the lightning ones, while IES of film capacitors is more than 25% higher in experiments on the lightning pulses. This work also gives reasons of catastrophic failure of film chip capacitors. The most likely reason seems to be a flashover in the side parts of the capacitor that is confirmed experimentally. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|