Atomic force microscopy: Surface forces, adhesion and nanomechanics measurements*

Autor:	Richard J. Colton, William R. Barger, David R. Baselt, Sean G. Corcoran, Daniel D. Koleske, Gil U Lee
Rok vydání:	2023
Zdroj:	First International Congress on Adhesion Science and Technology---invited papers ISBN: 9780429087486
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0a7addfcb5b7bb5b661a565e2a635b91 https://doi.org/10.1201/9780429087486-3 Zobrazit plný text záznamu