Ultrathin atomic layer deposited niobium oxide as a passivation layer in silicon based photovoltaics

Autor: Connor J. Leach, Benjamin E. Davis, Ben M. Garland, Ryan Thorpe, Nicholas C. Strandwitz
Rok vydání: 2021
Předmět:
Zdroj: Journal of Applied Physics. 130:215301
ISSN: 1089-7550
0021-8979
DOI: 10.1063/5.0067281
Databáze: OpenAIRE