Ultrathin atomic layer deposited niobium oxide as a passivation layer in silicon based photovoltaics
Autor: | Connor J. Leach, Benjamin E. Davis, Ben M. Garland, Ryan Thorpe, Nicholas C. Strandwitz |
---|---|
Rok vydání: | 2021 |
Předmět: | |
Zdroj: | Journal of Applied Physics. 130:215301 |
ISSN: | 1089-7550 0021-8979 |
DOI: | 10.1063/5.0067281 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |