Low Overhead and High Stability Radiation-Hardened Latch for Double/Triple Node Upsets

Autor:	Zhengfeng Huang, Hao Wang, Dongxing Ma, Huaguo Liang, Yiming Ouyang, Aibin Yan
Rok vydání:	2023
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering
Zdroj:	Journal of Electronic Testing.
ISSN:	1573-0727 0923-8174
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0a48d4cc10f3e2154e2dcdf0b294816c https://doi.org/10.1007/s10836-023-06064-9 Zobrazit plný text záznamu Full text from SpringerLink