Surface imaging with UHV SLEEM and SEM LEEM

Autor:	Pavel Jánský, Ilona Müllerová, Vladimír Kolařík, Šárka Mikmeková
Rok vydání:	2019
Předmět:	Surface (mathematics) Materials science business.industry Optoelectronics business Instrumentation
Zdroj:	Microscopy and Microanalysis. 25:444-445
ISSN:	1435-8115 1431-9276
DOI:	10.1017/s1431927619002952
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0869928e05139494e44467bf46a32d85 https://doi.org/10.1017/s1431927619002952 Zobrazit plný text záznamu