Evaluación de la fuga de corriente en capacitores electrolíticos mediante dos procesos de envejecido
| Autor: | Jaime Alexander Caballero Limón, Ricardo Daniel López García, Humberto Jasso Guerrero, María Magdalena s Reyes Gallegos, Araceli Maldonado Reyes |
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| Rok vydání: | 2022 |
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| Zdroj: | Ciencia Latina Revista Científica Multidisciplinar. 6:3516-3530 |
| ISSN: | 2707-2215 2707-2207 |
| Popis: | La fuga de corriente y sobrevoltaje son de los problemas más críticos en los sistemas eléctricos y electrónicos, los cuales están relacionados con quejas de clientes, y que se estima representan $ 1,920 millones de dólares en pérdidas anuales. En el presente trabajo se evaluaron la fuga de corriente en dispositivos electrónicos como lo son los capacitores electrolíticos con aplicaciones comerciales, y con especificaciones de 10 µm y 35 V. Dos procesos de envejecido fueron evaluados, el tradicional aplicando voltaje y temperatura, y un nuevo proceso eliminando la temperatura e incrementando el voltaje de operación. La efectividad para cada proceso se evaluó mediante equipos tradicionales de medición de corriente y voltaje. Se utilizaron herramientas estadísticas, como distribución logarítmica normal de 3 parámetros, series de tiempo y diagramas de probabilidad, con la finalidad de analizar los datos obtenidos para cada proceso. Se observó, que la fuga de corriente de ambos procesos es aceptable dentro de los límites de especificación, y para el nuevo proceso los resultados de las pruebas a largo plazo mostraron mayor efectividad |
| Databáze: | OpenAIRE |
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