Automated Triaging of Gate Run Test Results using Humio Tool

Autor:	Sushma Bennur, Madhav Pai, Raghu Tiptur Shivaiah, Premananda B.S.
Rok vydání:	2022
Zdroj:	2022 IEEE North Karnataka Subsection Flagship International Conference (NKCon).
DOI:	10.1109/nkcon56289.2022.10126663
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::063817cec05acd3b2e2187244d14eca6 https://doi.org/10.1109/nkcon56289.2022.10126663 Zobrazit plný text záznamu