Surge Protective Device Damage Caused by Triggered Lightning Return Stroke, Subsequent Continuous Current and M Component

Autor: Shaodong Chen, Xu Yan, Yijun Zhang, Weitao Lyu, Yang Zhang, Chang Chen, Lyuwen Chen, Yanfeng Fan, Sai Du
Rok vydání: 2022
Předmět:
Zdroj: SSRN Electronic Journal.
ISSN: 1556-5068
DOI: 10.2139/ssrn.4266671
Databáze: OpenAIRE