A Read Disturbance Tolerant Phase Change Memory System for CNN Inference Workloads

Autor:	Hyokeun Lee, Hyuk-Jae Lee, Hyun Kim
Rok vydání:	2022
Předmět:	Electrical and Electronic Engineering Electronic Optical and Magnetic Materials
Zdroj:	JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE. 22:216-223
ISSN:	2233-4866 1598-1657
DOI:	10.5573/jsts.2022.22.4.216
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::008b5ac4afa5aca8cd769c61163da168 https://doi.org/10.5573/jsts.2022.22.4.216 Zobrazit plný text záznamu