X - ray Diffractometric Technique for Screening High - Temperature Resistant Wheat Varieties

Autor: B C Panda, S Nagarajan, K K Nagpal and D K Suri
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2015
Předmět:
Zdroj: Proceedings of Indian National Science Academy, Vol 45, Iss 3B (2015)
ISSN: 2454-9983
0370-0046
Popis: X - ray Diffractometric Technique for Screening High - Temperature Resistant Wheat Varieties
Databáze: OpenAIRE