Calibration curves for Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)

Autor:	Grella, K., Mariolle, D., Chevalier, N., Kogelschatz, M., Hartmann, J.M, Bertin, F., Chabli, A.
Přispěvatelé:	Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Clot, Marielle
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2009
Předmět:	ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Zdroj:	Forum microscopies à sonde locale Forum microscopies à sonde locale, 2009, France
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f5688704d466bfa9929e1789c0705624 https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397031 Zobrazit plný text záznamu