Caractérisation sur plaque de varicap MOS subfemtofarad en technologie silicium

Autor: Debroucke, R., Larchanche, J.F., Ducatteau, D., Tanbakuchi, H., Gaquière, Christophe
Přispěvatelé: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
Jazyk: francouzština
Rok vydání: 2010
Zdroj: 11èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2010
11èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2010, 2010, Brest, France
Databáze: OpenAIRE
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