Caractérisation sur plaque de varicap MOS subfemtofarad en technologie silicium
Autor: | Debroucke, R., Larchanche, J.F., Ducatteau, D., Tanbakuchi, H., Gaquière, Christophe |
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Přispěvatelé: | Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF) |
Jazyk: | francouzština |
Rok vydání: | 2010 |
Zdroj: | 11èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2010 11èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2010, 2010, Brest, France |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |
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