Construction and Evaluation of the Susceptibility Model of an Integrated Phase-Locked Loop
| Autor: | Boyer, Alexandre, Ben Dhia, Sonia, Lemoine, Christophe, Vrignon, Bertrand |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie (LAAS-ISGE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Freescale Semiconductor, Freescale semiconductor, Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2011 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Itnegrated Circuits 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Itnegrated Circuits, Nov 2011, Dubrovnik, Croatia. pp.7 |
| Popis: | 6 pages; International audience; Developing integrated circuit immunity models has become one of the major concerns of integrated circuits suppliers to predict whether a chip will pass susceptibility tests before fabrication and avoid redesign process. This paper presents the development process of the susceptibility model an integrated phase-locked loop to harmonic disturbances up to 1 GHz. The model construction is based on basic circuit information and S parameter measurements. An evaluation of the model accuracy is ensured by the characterization of internal voltage fluctuations with an on-chip sensor. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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