Using focused x-ray beams to investigate single nanostructures
| Autor: | Stangl, J., Hrauda, N., Kriegner, D., Keplinger, M., Etzelstorfer, T., Mocuta, C., Diaz, A., Chamard, Virginie, Grifone, R., Schülli, T.U., Metzger, T.H., Bauer, G. |
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| Přispěvatelé: | Coherent Optical Microscopy and X-rays (COMiX), Institut FRESNEL (FRESNEL), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Marseille (ECM)-Aix Marseille Université (AMU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Marseille (ECM)-Aix Marseille Université (AMU), Chamard, Virginie, Aix Marseille Université (AMU)-École Centrale de Marseille (ECM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Aix Marseille Université (AMU)-École Centrale de Marseille (ECM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2012 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | 11th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012) 11th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012), Sep 2012, Moscou, Russia |
| Popis: | International audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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