De la cristallographie exotique à la réflectromètrie innovatrice

Autor:	Van Der Lee, A.
Přispěvatelé:	FALQUE, Philippe, Institut Européen des membranes (IEM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Nationale Supérieure de Chimie de Montpellier (ENSCM)-Université Montpellier 2 - Sciences et Techniques (UM2)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Université de Montpellier (UM), Université de montpellier, Corriu R.
Jazyk:	francouzština
Rok vydání:	2001
Předmět:	[CHIM] Chemical Sciences [CHIM.CRIS]Chemical Sciences/Cristallography [CHIM]Chemical Sciences [CHIM.CRIS] Chemical Sciences/Cristallography Christallography Réflectométrie des rayons X Christallographie
Zdroj:	Chimie. Université de montpellier, 2001
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::da6c614a026248a651b9a8690b4ab00d https://hal.umontpellier.fr/tel-01681029 Zobrazit plný text záznamu