In situ TEM study of the evolution of CoSi$_2$ precipitates during annealing and ion irradiation
| Autor: | Palard, M., Ruault, M.O., Bernas, H., Strobel, M., Heinig, K.H. |
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| Přispěvatelé: | Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse (CSNSM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11), Lorgeril, Jocelyne |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 1997 |
| Zdroj: | Microscopy of Semiconducting Materials Royal Microscopical Society Conference Royal Microscopical Society Conference, Apr 1997, Bristol, United Kingdom. pp.501-506 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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