Electron angular distributions from isolated SiO2 nanoparticles following soft x-ray irradiation
| Autor: | Liu, X., Nicolas, C., Robert, E., Morin, Pascal, Patanen, M., Kimberg, V., Reynaud, C., Sublemontier, Olivier, Saidani, Ghassen, Le Garrec, Jean-Luc, Mitchell, James, Antonsson, E., Graf, C., Ruhl, E., Miron, C. |
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| Přispěvatelé: | Institut de Physique de Rennes (IPR), Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Cadieu, Muriel, Université de Rennes (UR)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2012 |
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| Zdroj: | ICESS-12 ICESS-12, Sep 2012, Saint-Malo, France |
| Popis: | ICESS = International Conference on Electron Spectroscopy and Structure |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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