Kelvin force microscopy for n- and p-type GaN surface characterization
| Autor: | Melin, Thierry, Kusiaku, Koku, Barbet, Sophie, Deresmes, D., Theron, Didier, Aubry, Raphaël, Di Forte-Poisson, Marie-Antoinette, Jacquet, Jean-Claude |
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| Přispěvatelé: | Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Alcatel-Thalès III-V lab (III-V Lab), THALES [France]-ALCATEL |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2009 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Worskhop on Compound Semiconductor Materials and Devices, WOCSEMMAD'09 Worskhop on Compound Semiconductor Materials and Devices, WOCSEMMAD'09, 2009, Fort Myers, FL, United States |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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