High-pressure x-ray diffraction and Raman spectroscopy of Hf V 2 O 7
| Autor: | Hemamala, U., El-Ghussein, F., Goedken, M., Chen, B., Leroux, Christine, Krüger, M. |
|---|---|
| Přispěvatelé: | LInguistique et DIdactique des Langues Étrangères et Maternelles (LIDILEM), Université Stendhal - Grenoble 3, Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Max Planck Institute for Intelligent Systems [Tübingen], Max-Planck-Gesellschaft, Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Aix Marseille Université (AMU), Max Planck Institute for Intelligent Systems |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2004 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2004, 70 (21), ⟨10.1103/PhysRevB.70.214114⟩ Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), American Physical Society, 2004, 70 (21), ⟨10.1103/PhysRevB.70.214114⟩ |
| ISSN: | 1098-0121 1550-235X |
| DOI: | 10.1103/PhysRevB.70.214114⟩ |
| Popis: | International audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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