Size influence on the propagation loss induced by side-wall roughness in ultra-small SOI waveguides

Autor: Grillot L. Vivien S. Laval D. Pascal And E. Cassan, F.
Přispěvatelé: Institut d'électronique fondamentale (IEF), Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2004
Zdroj: IEEE Photonics Technology Letters
IEEE Photonics Technology Letters, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2004, 16, pp.1661-1663
ISSN: 1041-1135
Databáze: OpenAIRE