Si nano wire characterizations in GHz range using in-situ high impedance measurement set-up

Autor: Nougaret, L., Marczak, M., Hourlier-Bahloul, D., Derycke, Vincent, Happy, H., Dambrine, G.
Přispěvatelé: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2009
Zdroj: Indo-French Workshop on Nanosciences and Nanotechnology
Indo-French Workshop on Nanosciences and Nanotechnology, 2009, Delhi, India
Databáze: OpenAIRE