Caractérisation résolue spectralement du champ lointain de puces laser à semi-conducteur
| Autor: | Ehlert, Jannik F., Mugnier, Alain, Grillot, Frederic |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Laboratoire Traitement et Communication de l'Information (LTCI), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Télécom Paris, EXFO Optics, Center for High Technology Materials (CHTM), The University of New Mexico [Albuquerque], Département Communications & Electronique (COMELEC), Télécom ParisTech, Télécommunications Optiques (GTO), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Télécom Paris-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Télécom Paris, Ehlert, Jannik F. |
| Jazyk: | francouzština |
| Rok vydání: | 2021 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | OPTIQUE OPTIQUE, Jul 2021, Dijon, France |
| Popis: | International audience; Nous proposons une adaptation de la méthode de mesure du champ lointain pour obtenir une caractérisation résolue spectralement notamment pour des diodes semi- conductrices en régime d’émission spontanée amplifiée. Nous décrivons en détail la méthode de mesure mise en place et présentons les résultats obtenus dans le cas d’une diode à hétérostructure. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|