EWOD displacement on patterned superhydrophobic silicon nanowires surface : lab-on-chip for direct mass spectrometry analysis

Autor: Lapierre, F., Verbeke, B., Verplanck, N., Thomy, V., Piret, G., Coffinier, Y., Boukherroub, Rabah
Přispěvatelé: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2008
Zdroj: Proceedings of the 1st European Conference on Microfluidics, MicroFlu'08
1st European Conference on Microfluidics, MicroFlu'08
1st European Conference on Microfluidics, MicroFlu'08, 2008, Italy. CDROM, µFLU08-135, 6 p
Databáze: OpenAIRE