The Use of Ensemble Learning in Indirect Testing of Analog and RF Integrated Circuits
| Autor: | El Badawi, Hassan, Azaïs, Florence, Bernard, Serge, Comte, Mariane, Kerzérho, Vincent, Lefèvre, François |
|---|---|
| Přispěvatelé: | TEST (TEST), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Smart Integrated Electronic Systems (SmartIES), NXP Semiconductors |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2019 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | South European Test Seminar (SETS) South European Test Seminar (SETS), 2019, Pitztal, Austria |
| Popis: | International audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|