Reliability estimation methods : Tradeoffs between complexity and accuracy

Autor:	Samuel Nascimento Pagliarini, Denis Teixeira Franco, Lirida Alves de Barros Naviner, Jean-François NAVINER
Přispěvatelé:	Secure and Safe Hardware (SSH), Laboratoire Traitement et Communication de l'Information (LTCI), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Télécom Paris-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Télécom Paris, Département Communications & Electronique (COMELEC), Télécom ParisTech, Télécom ParisTech-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), HAL, TelecomParis
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2012
Předmět:	[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Zdroj:	Southern Simposium of Microelectronics Southern Simposium of Microelectronics, Apr 2012, Sao Miguel das Missoes, RS, Brazil HAL
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::acf7a5821a44d8c7d49bffaa5420a36b https://hal.telecom-paris.fr/hal-02288322 Zobrazit plný text záznamu