Temperature dependent degradation modes in AlGaN/GaN HEMTs
| Autor: | Douvry, Y., Hoel, V., Jaeger, J. -C, Defrance, N., Sury, C., Malbert, N., Labat, N., Curutchet, A., Dua, C., Oualli, M., Piazza, M., Jean-Marie bluet, Chikhaoui, W., Bru-Chevallier, C. |
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| Přispěvatelé: | Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2010 |
| Zdroj: | Proceedings of the 5th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2010 5th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2010 5th European Microwave Integrated Circuits Conference, EuMIC 2010, 2010, France. pp.114-117 Scopus-Elsevier |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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