Electrical detection of failures of MEMS electrostatic microactuators for test circuits

Autor: Caillard, B., Mita, Y., Fukuta, Y., Chapuis, Y.A., Shibata, T., Fujita, H.
Přispěvatelé: Jung, Marie-Anne, Institut d'Electronique du Solide et des Systèmes (InESS), Université Louis Pasteur - Strasbourg I-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2005
Zdroj: 6th IEEE Latin-American Test Workshop (LATW 2005)
Databáze: OpenAIRE