Alpha-Soft Error Rate due to new generations of high-k gate oxides and metal gate electrodes in a 32 nm node
| Autor: | Gedion, M., Wrobel, Frédéric, Saigné, F., Schrimpf, R. d. |
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| Přispěvatelé: | Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Vanderbilt University [Nashville] |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2011 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | RADECS 2011 RADECS 2011, 2011, Seville, Spain |
| Popis: | International audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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