Structure et propagation de défauts dans les nanopiliers de silicium
| Autor: | Merabet, A., Texier, M., Tromas, C., Verdier, M., Talneau, A., Burle, N., Thomas, O., julien godet |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Aix Marseille Université (AMU), Institut Pprime (PPRIME), Université de Poitiers-ENSMA-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Bibliométrie, IM2NP, Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| Jazyk: | francouzština |
| Rok vydání: | 2016 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Congrés de l’Association Française de Cristallographie Congrés de l’Association Française de Cristallographie, Jul 2016, Marseille, France HAL |
| Popis: | National audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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