Improved methodology for the Characterization of Avt MOSFET matching parameter dispersion
| Autor: | Cathignol, A., Rochereau, K., Bordez, S., gerard ghibaudo |
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| Přispěvatelé: | Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique (IMEP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF), Domenget, Chahla, Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2006 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | IEEE ICMTS 2006 IEEE ICMTS 2006, 2006, Grenoble, France. pp.XX HAL |
| Popis: | International audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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