Ionisation par impact dans les jonctions p-n de silicium
| Autor: | Durand, Corentin, Capiod, Pierre, Berthe, Maxime, Nys, Jean-Philippe, Grandidier, B. |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF) |
| Jazyk: | francouzština |
| Rok vydání: | 2013 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | 16ème Forum des Microscopies à Sondes Locales 16ème Forum des Microscopies à Sondes Locales, 2013, Spa, Belgique 16ème Forum des Microscopies à Sondes Locales, Mar 2013, Spa, Belgique |
| Popis: | National audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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