Méthodes de caractérisation avancée pour l’évaluation de la fiabilité des filières GaN

Autor:	Benvegnu, Agostino, Delprato, Julien, Roux, Jean-Luc, Eudeline, Philippe, Campovecchio, Michel, Barataud, Denis
Přispěvatelé:	C2S2 (XLIM-C2S2), XLIM (XLIM), Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre National d'Études Spatiales [Toulouse] (CNES), Thales Air Systems, Thales Group [France]
Jazyk:	francouzština
Rok vydání:	2015
Předmět:	[SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics ComputingMilieux_MISCELLANEOUS [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Zdroj:	salon des radiofréquences, des hyperfréquences, du wireless, de la CEM et de la Fibre Optique salon des radiofréquences, des hyperfréquences, du wireless, de la CEM et de la Fibre Optique, Apr 2015, PARIS, France Microwave & RF 2015 Microwave & RF 2015, Apr 2015, PARIS, France
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::845d00f17ea0265f23770beaa74db86c https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01287535 Zobrazit plný text záznamu