Analysis of Resistive-Open Defects in TAS-MRAM Array

Autor:	João Azevedo, Arnaud Virazel, Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Aida Todri-Sanial, Guillaune Prenat, Ken Mackay
Přispěvatelé:	Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), SPINtronique et TEchnologie des Composants (SPINTEC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), CROCUS Technology, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Peridier, Martine
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2011
Předmět:	[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Zdroj:	ITC: International Test Conference ITC: International Test Conference, Sep 2011, Anaheim, CA, United States HAL
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::805db17dd9f26c866c681070597b1536 https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00679524 Zobrazit plný text záznamu