Plasma etching processes for future electronic devices

Autor: Pargon, E., Martin, M., Sungauer, E., Luere, O., Menguelti, K., Mellhaoui, X., Chevolleau, T., Cunge, G., Vallier, L., Joubert, O., Morel, T., Barnola, S., Foucher, J., Lill, T.
Přispěvatelé: Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMaP), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2008
Předmět:
Zdroj: Journées nationales sur les technologies émergentes en micro-nano fabrication, (JNTE)
Journées nationales sur les technologies émergentes en micro-nano fabrication, (JNTE), 2008, toulouse, France
Popis: International audience
Databáze: OpenAIRE