Influence des parois métalliques d'un implant dans le bilan de transmission d'un système de télé-alimentation, et de télésurveillance d'implants orthopédiques intracorporels

Autor:	Rodes, F., Rodes, Emmanuel, Chevalerias, O., Garnier, Eliane, Goudrar, S., Jrad, K.
Přispěvatelé:	Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), OSA, XLIM (XLIM), Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Garnier, Eliane
Jazyk:	francouzština
Rok vydání:	2003
Předmět:	[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Zdroj:	Proceedings JSF 2003 Journées Scientifiques Francophones 2003 Journées Scientifiques Francophones 2003, Dec 2003, Tozeur, Tunisie. pp
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::7076c2e4281544063a3448ae8b939a83 https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00380367 Zobrazit plný text záznamu