Imagerie polarimétrie active et sélective par brisure d’orthogonalité dans le proche infrarouge

Autor: Staes, Jonathan, Parnet, François, Fade, Julien, Ortega-Quijano, Noé, Alouini, Mehdi
Přispěvatelé: Institut des Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON (Institut FOTON), Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Nationale Supérieure des Sciences Appliquées et de Technologie (ENSSAT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique Bretagne-Pays de la Loire (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Nationale Supérieure des Sciences Appliquées et de Technologie (ENSSAT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk: francouzština
Rok vydání: 2020
Předmět:
Zdroj: 15è Journées Imagerie Optique Non-Conventionnelle (JIONC 2020)
15è Journées Imagerie Optique Non-Conventionnelle (JIONC 2020), Mar 2020, Paris, France
Popis: International audience
Databáze: OpenAIRE