Autor:	Destouches, N., Reynaud, S., Jurgen Van Erps, Heidi Ottevaere, Ziebert, C., Steinbock, L., C Rodier, J., Lalanne, P., Chavel, P., Mustonen, I., Passilly, N., Pereira, S.
Přispěvatelé:	Applied Physics and Photonics
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2007
Předmět:	no keyword
Zdroj:	Vrije Universiteit Brussel
Popis:	no abstract
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::6b4b6c7d76e091b16531be3e9c9e652e https://biblio.vub.ac.be/vubir/second-benchmark-for-the-profile-characterization-of-subwavelength-diffractive-elements(707d33f7-3734-43cb-90fa-a39b52a61ebf).html Zobrazit plný text záznamu